稳态和间歇寿命测试设备ITC5230_动态参数测试仪-上海希斯美珂机电有限公司
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首页 > 半导体封装测试 > 测试类 > 动态参数测试仪 > 稳态和间歇寿命测试设备ITC5230
  • 稳态和间歇寿命测试设备ITC5230

    ◆最多可插16块可测不同类型器件的DUT测试板,每块DUT测试板供电为10A,24V/48V,每块DUT测试板最多可插入80颗器件
    ◆可测双极型器件、混装电路、IGBTs、MOSFETs和SMDs的稳态和间歇寿命
    ◆测试符合美军标MIL-STD-750的1026.3,1027.1,1036.3,1037和1042.1方法

    咨询电话:021-32512868

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